차례:
정의-테스트 대상 장치 (DUT) 란 무엇입니까?
테스트 대상 장치 (DUT)는 성능과 능력을 결정하기 위해 테스트되는 장치입니다. DUT는 더 큰 모듈의 구성 요소이거나 UUT (Unit Under Test)로 알려진 장치 일 수도 있습니다. 장치가 작동하는지 확인하기 위해 DUT에 결함이 있는지 검사합니다. 테스트는 손상된 장치가 시장에 유입되는 것을 방지하기 위해 설계되었으며, 이는 또한 제조 비용을 절감 할 수 있습니다.
DUT는 일반적으로 자동 또는 자동 테스트 장비 (ATE)에 의해 테스트되며, 테스트 된 장치에 따라 단순하거나 복잡한 테스트를 수행하는 데 사용될 수 있습니다. ATE는 소프트웨어, 하드웨어, 전자, 반도체 또는 항공 전자 장치에서 수행되는 테스트를 포함 할 수 있습니다.
Techopedia는 DUT (Device Under Test)를 설명합니다
최첨단 ATE 구조의 대부분은 빠른 테스트 실행을 위해 자동화를 사용합니다. 자동화는 IT 및 제어 시스템을 사용하여 인간 상호 작용을 제한합니다. 테스트 중에 사용되는 모듈에 따라 DUT는 포고 핀, 손톱 베드 테스터, 미세 바늘 및 제로 삽입 력 (ZIF) 소켓 또는 접촉기와 같은 다양한 커넥터를 사용하여 ATE에 연결할 수 있습니다.
다양한 DUT가 있기 때문에 테스트 절차가 다릅니다. 그러나 모든 DUT 테스트에서 첫 번째 허용 범위를 벗어난 값이 식별되면 테스트가 즉시 중지되고 DUT는 평가에 실패합니다.
다른 DUT 테스트 유형이 있습니다. 이러한 테스트는 반도체, 전체 전자 또는 기타 장치에 적용됩니다.
